українська
Анотація:Монографію присвячено застосуванню сканувального електронного мікроскопа, який працює в режимі дифракції зворотнорозсіяних електронів (ДОЕ/EBSD), для визначення параметрів орієнтування індивідуальних зерен, текстури в локальній області зразків, ідентифікації фаз на поверхні об’ємних полікристалів, розорієнтування меж зерен та ін. Розглянуто методи отримання і аналізу даних ДОЕ (EBSD) на прикладі металевих сплавів в субмікрокристалічному і наноструктурному станах. Надано рекомендації щодо режимів підготовки зразків, процедур збору даних і способів обробки отриманого масиву.
Читацька аудиторія:Для дослідників, які займаються вивченням структурних станів після різних обробок, а також викладачів і студентів при підготовці курсів з фізики твердого тіла, металофізики, матеріалознавства, наноструктурних матеріалів
російська
Анотація:Монография посвящена применению сканирующего электронного микроскопа, работающего в режиме дифракции обратнорассеянных электронов (ДОЭ/EBSD), для определения параметров ориентировки индивидуальных зерен, текстуры в локальной области образцов, идентификации фаз на поверхности объемных поликристаллов, разориентировки границ зерен и др. Рассмотрены методы получения и анализа данных ДОЭ (EBSD) на примере металлических сплавов в субмикрокристаллическом и наноструктурном состояниях. Даны рекомендации по режимам подготовки образцов, процедурам сбора данных и способам обработки полученного массива.
Читацька аудиторія:Для исследователей, занимающихся изучением структурных состояний после различных обработок, а также преподавателей и студентов при подготовке курсов по физике твердого тела, металлофизике, материаловедению, наноструктурным материалам.