українська
Анотація:Монографія присвячена аналізу як відомих інтерферометричних методів та технологій, так і нових методів і систем двокрокової лазерної фазозсувної інтерферометрії та електронної спекл-інтерферометрії для технічної діагностики поверхні матеріалів і виробів, розроблених та апробованих у Фізико-механічному інституті ім Г.В. Карпенка НАН України. Запропоновано нові підходи до реконструкції рельєфу наношорсткої поверхні і відтворення тривимірних полів поверхневих переміщень. Розглянуто низку оптико-цифрових інтерференційних систем діагностування стану поверхні та приповерхневих шарів зразків конструкційних матеріалів під час їх деформування і руйнування за статичних та циклічних навантажень, а також виявлення прихованих дефектів. Розроблено принципово нові алгоритми обробки фазозсувних інтерферограм, що дають змогу реконструювати макро- і нанорельєф поверхні біля концентраторів напружень порівняно простими технічними засобами
Читацька аудиторія:Для фахівців у галузі оптичної метрології, оптичного неруйнівного контролю, діагностики матеріалів і елементів конструкцій, оптоелектроніки та приладобудування
російська
Анотація:Монография посвящена анализу как известных интерферометрических методов и технологий, так и новых методов и систем двухшаговой лазерной фазосдвигающей интерферометрии и электронной спекл-интерферометрии для технической диагностики поверхности материалов и изделий, разработанных и апробированных в Физико-механическом институте им Г.В. Карпенко НАН Украины. Предложены новые подходы к реконструкции рельефа наношершавой поверхности и воспроизведению трехмерных полей поверхностных перемещений. Рассмотрен ряд оптико-цифровых интерференционных систем диагностирования состояния поверхности и приповерхностных слоев образцов конструкционных материалов при их деформации и разрушении в статических и циклических нагрузках, а также выявление скрытых дефектов. Разработаны принципиально новые алгоритмы обработки фазосдвигающих интерферограмм, позволяющие реконструировать макро- и нанорельеф поверхности у концентраторов напряжений сравнительно простыми техническими средствами
Читацька аудиторія:Для специалистов в области оптической метрологии, оптического неразрушающего контроля, диагностики материалов и элементов конструкций, оптоэлектроники и приборостроения