Ukrainian
Summary:У роботі проведено дослідження фізики відмов елементів і на цій основі здійснені формалізація та параметризація моделі надійності елемента на основі процесного підходу та теоретичних моделей відмов — дифузійних DN і DM -розподілів. У роботі зроблена спроба комплексного вирішення завдання експериментальної оцінки надійності за результатами форсованих випробувань на основі процесного підходу, що базується на уявленні складного процесу деградації виробів у вигляді набору квазіелементів, відповідних кожному із складових процесів деградації. У монографії розроблено спосіб представлення складного процесу деградації елемента у вигляді діаграми Парето, розроблені процедури перетворення діаграми Парето при переході від одного температурного режиму до іншого.В роботі також розглянуті питання статистичного моделювання складних процесів деградації з урахуванням явища заміни домінування між складовими процесами деградації і питання моделювання невідновлювальних виробів з послідовною структурою елементів, які є основною моделлю представлення складних виробів електронної техніки типу БІС. Представлений новий математичний апарат і методи на його основі дозволяють більш адекватно вирішувати завдання оцінки надійності за результатами форсованих випробувань у порівнянні з традиційними методами, заснованими на строго ймовірнісних моделях відмов, включаючи і експоненційний розподіл.
Reading audience:Дана монографія може бути цікава широкому колу фахівців у галузі надійності елементів і пристроїв обчислювальної техніки.
Russian
Summary:В работе проведено исследование физики отказов элементов и на этой основе осуществлены формализация и параметризация модели надежности элемента на основе процессного подхода и теоретических моделей отказов — диффузионных DN- и DM -распределений. В работе предпринята попытка комплексного решения задачи экспериментальной оценки надежности по результатам форсированных испытаний на основе процессного подхода, базирующегося на представлении сложного процесса деградации изделий в виде набора квазиэлементов, соответствующих каждому из составных процессов деградации. В монографии разработан способ представления сложного процесса деградации элемента в виде диаграммы Парето, разработаны процедуры преобразования диаграммы Парето при переходе от одного температурного режима к другому.На этой основе разработаны методы расчета коэффициентов форсирования и коэффициентов вариации, используемых для планирования и обработки результатов форсированных определительных и контрольных испытаний на надежность электронных элементов, типовых печатных плат и устройств, выполненных на электронной элементной базе. В работе рассмотрены также вопросы статистического моделирования сложных процессов деградации с учетом явления замены доминирования между составными процессами деградации и вопросы моделирования невосстанавливаемых изделий с последовательной структурой элементов, являющихся основной моделью представления сложных изделий электронной техники типа БИС. Представленный новый математический аппарат и методы на его основе позволяют более адекватно решать задачи оценки надежности по результатам форсированных испытаний в сравнении с традиционными методами, основанными на строго вероятностных моделях отказов, включая и экспоненциальное распределение.
Reading audience:Данная монография может быть интересна широкому кругу специалистов в области надежности элементов и устройств вычислительной техники.
English
Summary:The study of the physics of element failures was carried out, and on this basis, the element reliability model was formalized and parameterized based on the process approach and theoretical failure models - diffusion DN and DM distributions. An attempt is made to comprehensively solve the problem of experimental reliability assessment based on the results of forced tests based on a process approach based on the presentation of a complex product degradation process as a set of quasielements corresponding to each of the composite degradation processes. The monograph developed a method for representing the complex process of degradation of an element in the form of a Pareto diagram, developed procedures for converting the Pareto diagram during the transition from one temperature regime to another.On this basis, methods have been developed for calculating forcing coefficients and variation coefficients used for planning and processing the results of forced determination and control tests for the reliability of electronic components, typical printed circuit boards and devices based on electronic components. The paper also considers the issues of statistical modeling of complex degradation processes taking into account the phenomenon of substitution of dominance between composite degradation processes and the problems of modeling non-renewable products with a consistent structure of elements, which are the main model for representing complex products of electronic equipment such as LIC. The presented new mathematical apparatus and methods based on it allow more adequately solving reliability assessment problems based on the results of forced tests in comparison with traditional methods based on strictly probabilistic failure models, including the exponential distribution.
Reading audience:This monograph may be of interest to a wide range of specialists in the field of reliability of elements and devices of computer technology.