Публікації, в яких представлені результати проекту |
034 Atomically resolved STM imaging with a diamond tip: simulation and experiment |
Автори: | V Grushko, O Lübben, A N Chaika, N Novikov, E Mitskevich, A Chepugov, O Lysenko, B E Murphy, S A Krasnikov and I V Shvets | |
Реферат: | | |
Ключові слова: | STM, diamond, atomic resolution, electron orbital, graphite | |
Видання: | Nanotechnology, Vol. 25, No.2, pp. 025706-025717. | | | 2014,
,англійська |
034 Scanning Probe Microscopy with Diamond Tip in Tribo-nanolithography |
Автори: | O. Lysenko, V. Grushko, E. Mitskevich and A. Mamalis | |
Реферат: | | |
Ключові слова: | | |
Видання: | Mater. Res. Soc. Symp. Proc. Vol. 1318 2011, pp. 179—183. | | | 2011,
,англійська |
034 Combined nanopatterning and characterization of silicon surface using scanning tunelling microscopy with conductive diamond tip |
Автори: | Lysenko O. G., Dub S.N, Grushko V.I., Mitskevych E.I., Mamalis A.G. | |
Реферат: | | |
Ключові слова: | | |
Видання: | Proceedings of the IEEE Conference on Nanotechnology 2012, pp. 1—4 | | | 2012,
,англійська |
034 Багатофункціональний сканувальний зондовий мікроскоп з алмазним вістрям. Нанотехнологічні дослідження при атмосферних умовах |
Автори: | Лисенко О.Г. | |
Реферат: | | |
Ключові слова: | | |
Видання: | Наука та інновації. Т.8. №2. 2012. С. 8–12 | | | 2012,
,українська |
034 Алмазно-зондовые нанотехнологии для долговременных носителей информации |
Автори: | О.Г. Лысенко, Н.В. Новиков, В.И. Грушко, С.А. Ивахненко | |
Реферат: | | |
Ключові слова: | | |
Видання: | Материалы Международной конференции "Украина- Россия-Сколково: Единое инновационное пространство" Киев. 22-23 мая 2013 | | | 2013,
,російська |
034 Оценка разрешающей способности сканирующего туннельного микроскопа с острием из легированного бором алмаза |
Автори: | О. Г. Лысенко, В. И. Грушко, В. Н. Ткач, Е. И. Мицкевич | |
Реферат: | | |
Ключові слова: | | |
Видання: | Сверхтвердые материалы, №2, 2013 | | | ,
, |
034 Легированные бором монокристаллы алмаза для зондов высоковакуумной туннельной микроскопии |
Автори: | А. П. Чепугов, А. Н. Чайка, В. И. Грушко, Е. И. Мицкевич, О. Г. Лысенко | |
Реферат: | | |
Ключові слова: | | |
Видання: | Сверхтвердые материалы. №3, 2013 | | | ,
, |
034 Исследование фазовых переходов в кремнии методами сканирующей туннельной спектроскопии и наноиндентирования. |
Автори: | О. Г. Лысенко, С. Н. Дуб, В. И. Грушко, Е. И. Мицкевич, Г. Н. Толмачева | |
Реферат: | | |
Ключові слова: | | |
Видання: | Сверхтвердые материалы. № 6, 2013 | | | ,
, |
034 Теоретическое исследование поведения туннельного тока в сканирующем зондовом микроскопе с алмазным острием. |
Автори: | В. Грушко, Н. Новиков, О. Лысенко, А. Щербаков, Е. Мицкевич
| |
Реферат: | | |
Ключові слова: | | |
Видання: | Наносистемы, наноматериалы и нанотехнологии, т. 9, вып.4, 2011 | | | 2011,
,російська |
034 Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры поверхности |
Автори: | В. Грушко, Н. Новиков, А. Чайка, Е. Мицкевич, О. Лысенко | |
Реферат: | | |
Ключові слова: | | |
Видання: | Наносистеми, наноматеріали, анотехнології, 2014, т.12, No 1. | | | 2014,
,російська |
Конференції, семінари, читання, на яких представлені результати проекту |
|
034 Напрям 2. Технології напівпровідникових наноструктур Мета:Створення нових нанотехнологій та технічних засобів для виготовлення елементів наноелектроніки та надщільних носіїв цифрових даних методом контактної дії алмазного зонду сканувального зондового мікроскопу з in-situ контролем отриманих наноструктур Очікувані результати:Випуск нового виду продукції: технології Етап 1:Теоретичні дослідження нановзаємодії напівпровідникового алмазного нанозонду з поверхнею твердого тіла Етап 2:Розроблення нанозондів з алмазним вістрям для комбінованих методів сканувальної зондової мікроскопії Етап 3:Модернізація комбінованого сканувального зондового мікроскопу з електропровідним алмазним зондом, розробка спеціалізованого програмного забезпечення, що дозволяє сканування зразка з роздільною здатність не нижче 1 нм, нанонтактну дію на поверхню з контролем параметрів взаємодії вістря і зразка та можливість операцій тунельної спектроскопії поверхні Етап 4:Дослідження фазових перетворень в кремнії при наноіндентуванні та нанодряпанні. Розробка методик керованої зміни локальних характеристик кремнію на наномасштабному рівні контактною дією алмазного нанозонду. Визначення зносостійкості та оптимальних геометричних характеристик алмазного вістря при нанообробці кремнію, граничних значень рівня навантажень та швидкості процесу Етап 5:Виготовлення дослідних зразків елементів наноелектроніки та надщільних цифрових носіїв інформації, дослідження їх властивостей, оптимізація технологічних параметрів нанообробки кремнію алмазним вістрям. Виготовлення технічної документації, патентування, підготовка заключного звіту
|