1.4. Діагностика та моделювання наносистем
Мета:Створення теоретичних та експериментальних основ багатопараметричної рентгенівської дифрактометрії та квантово-механічне моделювання електронних властивостей нанорозмірних гетеросистем, розвиток оригінальних методів скануючої тунельної спектроскопії поверхні провідних наносистем, а також синтез і діагностика наносистем на основі поліацидометалатів та електровибухових нанопорошків
Очікувані результати:Випуск нового виду продукції: методів, теорій
Етап 1:Створення теоретичних основ Лауе-дифрактометрії, тунельної спектроскопії та моделювання властивостей нанорозмірних гетеросистем. Синтез нових наноматеріалів на основі поліацидометалатів та нанопорошків для плазмотронного напилення
Етап 2:Теоретичні основи методів комбінованої дифрактометрії наносистем та моделювання електронних властивостей надпровідників на основі заліза. Експериментальні дослідження електронної та атомної будови поверхні наноматеріалів методами СТ-, ЕПР-, ЯМР- та ІЧ-спектроскопії
Етап 3:Розробка методів двокристальної комбінованої дифрактометрії і резонансної СТ-спектроскопії нанорозмірних гетеросистем та моделювання електронних властивостей складних оксидних гетероструктур. Відпрацювання методик синтезу багатокомпонентних наносистем для плазмових технологій та наноінженерії композиційних матеріалів
Етап 4:Створення експериментальних основ комбінованої інтегральної дифрактометрії багатошарових наносистем, моделювання фізичних характеристик наноструктур та дослідження впливу домішок і фазового складу на їх властивості
Етап 5:Трикристальна комбінована дифрактометрія, СТ-спектроскопія та моделювання властивостей напівпровідникових наноматеріалів, розробка нанотехнологій одержання плазмових покриттів та каркасних ацидометалатів