Публікації, в яких представлені результати проекту |
047 Nanocluster NVM Cells Metrology: Window formation, Relaxation and Charge Retention Measurements |
Автори: | V. A. Ievtukh, A. N. Nazarov, V. I. Turchanikov and V. S. Lysenko | |
Реферат: | | |
Ключові слова: | | |
Видання: | Advanced Materials Research Vols. 718-720, pp 1118-1123 | | | 2013,
,англійська |
047 Charge trapping processes at memory window formation in single- and double nanocrystal layered NVMs |
Автори: | V. Ievtukh, A. Nazarov, V. Turchanikov, V. Lysenko, A. Nassiopoulou | |
Реферат: | | |
Ключові слова: | | |
Видання: | Microelectronic engineering, Vol. 109, pp 5-9 | | | 2013,
,англійська |
047 V.I. Turchanikov, V.A. Ievtukh, A.N. Nazarov Charge trapping and retention in nanocrystal Non Volatile Memory structure |
Автори: | V.I. Turchanikov, V.A. Ievtukh, A.N. Nazarov | |
Реферат: | | |
Ключові слова: | | |
Видання: | Joint 6th SemOI Workshop & 1st Ukrainian-French SOI Seminar | | | 2010,
,англійська |
047 Charge relaxation and charge retention in single- and double-layer nanocrystal MOS non-volatile memory cells using capacitance measurements |
Автори: | V. Ievtukh, A. Nazarov et al | |
Реферат: | | |
Ключові слова: | | |
Видання: | 17th Workshop on Dielectrics in Microelectronics | | | 2012,
,англійська |
047 Nanocrystal NVM Cells Electrical Parameters Measurement Specificity |
Автори: | V. Turchanikov, V. Ievtukh, A. Nazarov, V. Lysenko | |
Реферат: | | |
Ключові слова: | | |
Видання: | IEEE R8 International conference on computer as a tool, EUROCON2011,A28P3-208 | | | 2011,
,англійська |
047 Single- and double layered Si nanocrystal structures in SiO2 for non-volatile memory devices |
Автори: | Ievtukh V., Nazarov A., Lysenko V. | |
Реферат: | | |
Ключові слова: | | |
Видання: | 2nd International research and practice conference «Nanotechnology and Nanomaterials» | | | ,
, |
047 Метрология приборов нанокристаллической энергонезависимой памяти методом емкостной диагностики |
Автори: | В.А. Евтух, А.Н. Назаров, В.С. Лысенко | |
Реферат: | | |
Ключові слова: | | |
Видання: | Наноразмерные системы и наноматериалы: состояние и перспективы развития исследований в Украине, ВД «Академперіодика» НАН України 2014 | | | 2014,
,російська |
Конференції, семінари, читання, на яких представлені результати проекту |
|
047 Напрям 3. Діагностика наноструктур Мета:розробка методів електричного діагностування елементів енергонезалежної нанопам’яті, де в якості плаваючого затвора використовується кремнієві нановключення і наноструктури, та створення спеціалізованого діагностичного обладнання з оригінальним програмним забезпеченням для електрофізичних досліджень. Розробка алгоритмів таких досліджень, а також випробування програмно-технічного комплексу на ємнісних комірках енергонезалежної пам’яті з нановключеннями та спеціалізованих транзисторних структурах Очікувані результати:Випуск нового виду продукції: методів, теорій Етап 1:Доробка існуючої діагностичної системи, розробка та виготовлення допоміжних елементів Етап 2:Розробка методик діагностування ширини вікна програмування/стирання, розробка алгоритмів, опробовування Етап 3:Розробка методик визначення релаксаційних характеристик запису заряду у комірках при перепрограмуванні, розробка алгоритмів, опробовування Етап 4:Розробка методик діагностування збереження інформації у комірках з плином часу, розробка алгоритмів, опробовування Етап 5:Поіменоване на етапах з другого по четвертий у діапазоні підвищених температур з метою проведення прискореної діагностики
|