Ukrainian
Summary:В монографії викладено динамічну теорію інтегральних інтенсивностей бреггівського та дифузного розсіянь рентґенівських променів в кристалах з дефектами декількох типів. Показано, що встановлене авторами підвищення чутливості і інформативності діагностики дефектів зумовлено перетворенням зондуючого кристал хвильового поля з бігучого в стоячі та взаємодіючі між собою бреггівські та дифузні блохівські хвилі, які і забезпечують колосальне підсилення прояву дефектів в картині багатократного розсіяння і виникнення суттєвої залежності цього підсилення від умов дифракції. Обговорюються створені моделі високоінформативної інтегральної багатопараметричної дифузно-динамічної комбінованої дифрактометрії (ІБДДКД), яка базується на аналізі чутливими до характеристик дефектів залежностей інтегральних інтенсивностей від різних параметрів, що характеризують умови дифракції (кути Брегга, азимутальні кути, товщини і вигини кристалів, довжини хвиль, амплітуди ультразвукових коливань, різні геометрії та граничні випадки дифракції). Наведено результати експериментальної апробації створених моделей для ІБДДКД монокристалічних виробів з порушеними поверхневими шарами і дефектами декількох типів, які можуть бути і неоднорідно розподіленими
Reading audience:Монографія призначена для дослідників в області діагностики дефектів в кристалах та виробах нанотехнологій, а також аспірантів і студентів відповідних спеціальностей
Russian
Summary:В монографии изложена динамическая теория интегральных интенсивностей брэгговского и диффузного рассеяний рентгеновских лучей в кристаллах с дефектами нескольких типов. Показано, что обнаруженное авторами повышение чувствительности и информативности диагностики дефектов обусловлено преобразованием зондирующего кристалл волнового поля из бегущего в стоячие и взаимодействующие между собой брэгговские и диффузные блоховские волны, которые и обеспечивают колоссальное усиление проявления дефектов в картине многократного рассеяния и возникновение существенной зависимости этого усиления от условий дифракции. Обсуждаются созданные модели высокоинформативной интегральной многопараметрической диффузно-динамической комбинированной дифрактометрии (ИМДДКД), базирующейся на анализе оказавшихся чувствительными к характеристикам дефектов зависимостей интегральных интенсивностей от различных параметров, характеризующих условия дифракции (углы Брэгга, азимутальные углы, толщины и изгибы кристаллов, длины волн, амплитуды ультразвуковых колебаний, различные геометрии и предельные случаи дифракции и др.). Приведены результаты экспериментальной апробации созданных моделей для ИМДДКД монокристаллических изделий с нарушенными поверхностными слоями и дефектами нескольких типов, которые могут быть и неоднородно распределенными
Reading audience:Монография предназначена для исследователей в области диагностики дефектов в кристаллах и изделий нанотехнологий, а также аспирантов и студентов соответствующих специальностей