Ukrainian
Summary:В монографії розкрито фізичну природу та розроблено принципи застосування встановленого авторами явища унікального підвищення структурної чутливості і появи інформативної можливості вирішення задач багатопараметричної діагностики монокрис-талічних систем з дефектами при використанні багатократного розсіяння рентґенівських променів, нейтронів і електронів. Це явище обумовлено формуванням кристалом з дефектами в процесі багатократного розсіяння взаємодіючих стоячих дифузних і брег-гівських хвильових полів, які керуються умовами дифракції та залежать від характеристик дефектів. Вказане явище використовується для створення основ і практичної реалізації неруйнівної кількісної дифузно-динамічної комбінованої дифрактометрії багатопарамет-ричних монокристалічних матеріалів і багатошарових систем з дефектами декількох типів. Запропоновано типовий проект оригінальних діагностичних станцій нового покоління, які можуть бути використані на будь-якому сучасному синхротроні або джерелі нейтронів
Reading audience:Монографія призначена для дослідників в області діагностики дефектів в кристалах та виробах нанотехнологій, а також аспірантів і студентів відповідних спеціальностей
Russian
Summary:В монографии раскрыта физическая природа и разработаны принципы применения обнаруженного авторами явления уникального повышения структурной чувствительности и появления информативной возможности решения задач многопараметрической диагностики монокристаллических систем с дефектами при использовании многократного рассеяния рентгеновских лучей, нейтронов и электронов. Это явление обусловлено формированием кристаллом с дефектами в процессе многократного рассеяния взаимодействующих стоячих диффузных и брэгговских волновых полей, управляемых условиями дифракции и зависящих от характеристик дефектов. Указанное явление используется для создания основ и практической реализации неразрушающей количественной диффузно-динамической комбинированной дифрактометрии многопараметрических монокристаллических материалов и многослойных систем с дефектами нескольких типов. Предлагается типовой проект оригинальных диагностических станций нового поколения, которые могут быть использованы на любом современном синхротроне или источнике нейтронов
Reading audience:Монография предназначена для исследователей в области диагностики дефектов в кристаллах и изделий нанотехнологий, а также аспирантов и студентов соответствующих специальностей